產(chǎn)品優(yōu)勢：四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測器（選配）Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器（相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度，如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團(tuán)，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發(fā)生器模塊，在非常短的時間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。 五、380/MA多角度檢測器（選配）粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。Nicomp多峰分布概念： 基線調(diào)整自動補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器的兩個主要特點。挑選zeta電位及納米粒度儀單價

       技術(shù)優(yōu)勢1、PMT高靈敏度檢測器；2、可搭配不同功率光源；3、雙列直插式電極和樣品池，可反復(fù)使用成千上萬次；4、鈀電極；5、精確度高，接近樣品真實值；6、復(fù)合型算法：高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換；相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換；7、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；9、符合USP,CP等個多藥典要求；10、無需校準(zhǔn)；11、模塊化設(shè)計便于維護(hù)和升級；（1）可自動稀釋模塊（選配）；（2）搭配多角度檢測器（選配）；（3）自動進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；服務(wù)zeta電位及納米粒度儀價格技術(shù)優(yōu)勢：9、符合USP,CP等個多藥典要求。

        Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：動態(tài)光散射儀（Dynamic Light Scattering,DLS）/ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS）；檢測范圍：粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍0.3nm–10μm，ZETA電位檢測范圍為+/-500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（Gaussian）單峰算法的Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶節(jié)省檢測成本。

產(chǎn)品優(yōu)勢：四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測器（選配）Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器（相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度，如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團(tuán)，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發(fā)生器模塊，在非常短的時間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。五、380/MA多角度檢測器（選配）粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。 四、雪崩二極管 (APD)高靈敏度檢測器（選配） ：Nicomp 380裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器。

Nicomp多峰分布概念：基線調(diào)整自動補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個主要特點，Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認(rèn)識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產(chǎn)生活中不相符，因為現(xiàn)實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論，提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。 Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布。服務(wù)zeta電位及納米粒度儀價格

技術(shù)優(yōu)勢：11、模塊化設(shè)計便于維護(hù)和升級； （2）搭配多角度檢測器（選配）。挑選zeta電位及納米粒度儀單價

Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱為電位離子，電位離子通過靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍，被吸引的離子稱為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此，整個膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢是醉高的，根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。挑選zeta電位及納米粒度儀單價