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新能源模塊檢測

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-07-15

    由于西門康IGBT模塊供應(yīng)為MOSFET結(jié)構(gòu),IGBT的柵極通過一層氧化膜與發(fā)射極實(shí)現(xiàn)電隔離。由于此氧化膜很薄,其擊穿電一般達(dá)到20~30V。因此因靜電而導(dǎo)致柵極擊穿是IGBT失效的常見原因之一。因此使用中要注意以下幾點(diǎn):1、在使用模塊時(shí),盡量不要用手觸摸驅(qū)動(dòng)端子部分,當(dāng)必須要觸摸西門康IGBT模塊供應(yīng)端子時(shí),要先將人體或衣服上的靜電用大電阻接地進(jìn)行放電后,再觸摸;2、在用導(dǎo)電材料連接模塊驅(qū)動(dòng)端子時(shí),在配線未接好之前請先不要接上模塊;3、盡量在底板良好接地的情況下操作。在應(yīng)用中有時(shí)雖然保證了柵極驅(qū)動(dòng)電壓沒有超過柵極大額定電壓,但柵極連線的寄生電感和柵極與集電極間的電容耦合,也會(huì)產(chǎn)生使氧化層損壞的振蕩電壓。為此,通常采用雙絞線來傳送驅(qū)動(dòng)信號(hào),以減少寄生電感。在柵極連線中串聯(lián)小電阻也可以抑制振蕩電壓。此外,在柵極—發(fā)射極間開路時(shí),若在集電極與發(fā)射極間加上電壓,則隨著集電極電位的變化,由于集電極有漏電流流過,柵極電位升高,集電極則有電流流過。這時(shí),如果集電極與發(fā)射極間存在高電壓,則有可能使西門康IGBT模塊供應(yīng)發(fā)熱及至損壞。在使用西門康IGBT模塊供應(yīng)的場合,當(dāng)柵極回路不正?;驏艠O回路損壞時(shí)(柵極處于開路狀態(tài))。二極管導(dǎo)通后兩端的正向電壓稱為正向壓降(或管壓降),且?guī)缀鹾愣?。硅管的管壓降約為0.7V。新能源模塊檢測

    本文介紹了如何實(shí)現(xiàn)具有較大信號(hào)輸出的硅應(yīng)變計(jì)...發(fā)表于2017-06-0714:12?518次閱讀負(fù)反饋電阻在運(yùn)放電路中有什么作用?射頻電阻并聯(lián)同...在射頻和微波頻段使用的高功率電阻,大多數(shù)使用在Wilkinson功分器或者合路器產(chǎn)品中。為得到**好的...發(fā)表于2017-06-0709:01?1724次閱讀什么是泄漏電阻?泄漏電流的原因個(gè)絕緣電阻有關(guān)系嗎...通過絕緣體,導(dǎo)體或地線的電流很少(微安)。如果絕緣劣化會(huì)出現(xiàn)電流增加或吸收電流消失后有電流增加。(參...發(fā)表于2017-06-0617:17?2236次閱讀**電阻標(biāo)準(zhǔn)衡量值,電阻和電壓之間的交互關(guān)系我現(xiàn)在知道的是:金屬導(dǎo)體里的自由電子產(chǎn)生規(guī)律運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的電流,而電阻是由自由電子在導(dǎo)體中碰撞其他的分...發(fā)表于2017-06-0614:34?402次閱讀何為水泥電阻?四、五線共線電阻屏的設(shè)計(jì)與考量五線電阻技術(shù)觸摸屏的基層把兩個(gè)方向的電壓場通過精密電阻網(wǎng)絡(luò)都加在玻璃的導(dǎo)電工作面上,我們可以簡單的理...發(fā)表于2017-06-0609:01?396次閱讀AC電機(jī)如何利用電容來調(diào)整速度?電學(xué)單位換算該如...就是說容抗與頻率成反比,與容量成反比。容抗也是有電壓降的。容量越小,容抗越大。海南通用模塊二極管由管芯、管殼和兩個(gè)電極構(gòu)成。管芯是一個(gè)PN結(jié),在PN結(jié)的兩端各引出一個(gè)引線,并用塑料。

    降低本征JFET的影響,和使用元胞設(shè)計(jì)幾何圖形,從而達(dá)到以上的目標(biāo)。對兩種1200VNPTIGBT進(jìn)行比較:一種是其他公司的需負(fù)偏置關(guān)斷的器件,一種是IR公司的NPT單正向柵驅(qū)動(dòng)IRGP30B120KD-E。測試結(jié)果表明其他公司的器件在源電阻為56?下驅(qū)動(dòng)時(shí),dV/dt感生電流很大。比較寄生電容的數(shù)據(jù),IR器件的三種電容也有減?。狠斎腚娙荩珻IES減小25%輸出電容,COES減小35%反向傳輸電容,CRES減小68%圖4寄生電容比較圖5顯示出IR器件的減小電容與V的關(guān)系,得出的平滑曲線是由于減小了JFET的影響。當(dāng)V=0V時(shí),負(fù)偏置柵驅(qū)動(dòng)器件的C為1100pF,IRGP30B120KD-E只有350pF,當(dāng)VCE=30V時(shí),負(fù)偏置柵驅(qū)動(dòng)器件的C為170pF,IRGP30B120KD-E的CRES為78pF。很明顯,IRGP30B120KD-E具有非常低的C,因此在相同的dV/dt條件下dV/dt感生電流將非常小。圖5IRGP30B120KD-E寄生電容與VCE的關(guān)系圖6的電路用來比較測試兩種器件的電路性能。兩者的dV/dt感生電流波形也在相同的dV/dt值下得出。圖6dV/dt感生開通電流的測試電路測試條件:電壓率,dV/dt=直流電壓,Vbus=600V外部柵到發(fā)射極電阻Rg=56?環(huán)境溫度。

    所述***氧化層厚度為1000-1200a。進(jìn)一步地,所述第二氧化層厚度為3000-5000a。進(jìn)一步地,兩個(gè)所述溝槽柵結(jié)構(gòu)之間設(shè)置有***摻雜區(qū),所述***摻雜區(qū)的摻雜類型與所述半導(dǎo)體襯底的類型相反。進(jìn)一步地,在所述***摻雜區(qū)的內(nèi)表面設(shè)置兩個(gè)第二摻雜區(qū),所述第二摻雜區(qū)的摻雜類型與***摻雜區(qū)的摻雜類型相反,兩個(gè)所述第二摻雜區(qū)分別設(shè)置在靠近兩個(gè)所述溝槽柵結(jié)構(gòu)的一側(cè),所述***摻雜區(qū)和所述第二摻雜區(qū)與發(fā)射極金屬接觸。進(jìn)一步地,所述半導(dǎo)體的底部還設(shè)置有緩沖層和集電極,所述集電極設(shè)置在比較低層。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果:本實(shí)用新型提供的溝槽柵igbt通過在溝槽內(nèi)設(shè)置兩種厚度氧化層,兩種厚度氧化層分別為***氧化層和第二氧化層,該第二氧化層厚度大于***氧化層厚度,因?yàn)榻Y(jié)電容與氧化層的厚度成反比,因此增加氧化層的厚度會(huì)降低器件的結(jié)電容大小,從而解決了現(xiàn)有技術(shù)中溝槽柵igbt結(jié)電容大的問題,從而提高了本實(shí)用新型的開關(guān)特性,使得本實(shí)用新型可應(yīng)用于高頻場景。附圖說明圖1為現(xiàn)有技術(shù)中平面柵igbt的示意圖;圖2為現(xiàn)有技術(shù)中溝槽柵igbt的示意圖;圖3為現(xiàn)有技術(shù)中溝槽柵結(jié)構(gòu)制作方法的流程圖;圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的溝槽柵igbt的示意圖。當(dāng)加上輸入信號(hào)VI(一般為高電平)、并且交流負(fù)載電源電壓通過零點(diǎn)時(shí),雙向晶閘管被觸發(fā),將負(fù)載電源接通。

    好的磁通密度B在100...發(fā)表于2017-11-0616:26?3306次閱讀電動(dòng)勢和電壓的區(qū)別電動(dòng)勢是對電源而說的,它就是電源將單位正電荷從負(fù)極經(jīng)電源內(nèi)部移到正極時(shí),非靜電力所做的功。電壓是對一...發(fā)表于2017-11-0615:54?342次閱讀關(guān)于電磁繼電器二次吸合電壓技術(shù)研究當(dāng)電磁繼電器線圈上電,隨勵(lì)磁線圈電流的增大,首先出現(xiàn)一次動(dòng)靜觸頭的不實(shí)閉合(如圖1a),此時(shí)彈簧拉力...發(fā)表于2017-11-0110:42?347次閱讀tl431的電源改電壓的方法TL431是一個(gè)小個(gè)頭(如同普通小三極管封裝)而又便宜的可調(diào)電壓基準(zhǔn)芯片。很多電源都用的TL431來...發(fā)表于2017-10-2709:38?960次閱讀殘余電壓保護(hù)復(fù)位電路殘余電壓實(shí)際上Δe不完全等于零,那時(shí)的Δe稱為殘余電壓.GPS測高包括機(jī)載GPS測高和浮標(biāo)GPS測高...發(fā)表于2017-10-2011:35?203次閱讀鉗形表測電壓使用方法_鉗形表上的符號(hào)圖解1、將紅表筆插入“VΩHz”插孔,黑表筆插入“COM”插孔;2、將功能量程開關(guān)置于交流電壓檔,并...發(fā)表于2017-08-0710:10?12490次閱讀電壓低怎么辦?農(nóng)村電壓低怎么辦?空調(diào)電壓低怎么辦...電壓低的原因很多,1、低壓線路比較長,線路電阻較大;2、低壓負(fù)荷比較大。EconoBRIDGE 可在整流級(jí)*有二極管時(shí)實(shí)現(xiàn)不控整流,也可在整流級(jí)中使用晶閘管實(shí)現(xiàn)半控整流。黑龍江模塊直銷價(jià)

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    脈沖的幅值與柵驅(qū)動(dòng)電路阻抗和dV/dt的實(shí)際數(shù)值有直接關(guān)系。IGBT本身的設(shè)計(jì)對減小C和C的比例非常重要,它可因此減小dV/dt感生電壓幅值。如果dV/dt感生電壓峰值超過IGBT的閥值,Q1產(chǎn)生集電極電流并產(chǎn)生很大的損耗,因?yàn)榇藭r(shí)集電極到發(fā)射極的電壓很高。為了減小dV/dt感生電流和防止器件開通,可采取以下措施:關(guān)斷時(shí)采用柵極負(fù)偏置,可防止電壓峰值超過V,但問題是驅(qū)動(dòng)電路會(huì)更復(fù)雜。減小IGBT的CGC寄生電容和多晶硅電阻Rg’。減小本征JFET的影響圖3給出了為反向偏置關(guān)斷而設(shè)計(jì)的典型IGBT電容曲線。CRES曲線(及其他曲線)表明一個(gè)特性,電容一直保持在較高水平,直到V接近15V,然后才下降到較低值。如果減小或消除這種“高原”(plateau)特性,C的實(shí)際值就可以進(jìn)一步減小。這種現(xiàn)象是由IGBT內(nèi)部的本征JFET引起的。如果JFET的影響可以**小化,C和C可隨著VCE的提高而很快下降。這可能減小實(shí)際的CRES,即減小dV/dt感生開通對IGBT的影響。圖3需負(fù)偏置關(guān)斷的典型IGBT的寄生電容與V的關(guān)系。IRGP30B120KD-E是一個(gè)備較小C和經(jīng)改良JFET的典型IGBT。這是一個(gè)1200V,30ANPTIGBT。它是一個(gè)Co-Pack器件,與一個(gè)反并聯(lián)超快軟恢復(fù)二極管共同配置于TO-247封裝。設(shè)計(jì)人員可減小多晶體柵極寬度。新能源模塊檢測

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