提供具有邊框結(jié)構(gòu)的基板結(jié)構(gòu)、半導(dǎo)體晶圓、以及晶圓制作方法。根據(jù)本申請(qǐng)的一實(shí)施例，提供一種承載半導(dǎo)體組件的基板結(jié)構(gòu)，其特征在于，包含：一晶圓層，具有相對(duì)應(yīng)的一***表面與一第二表面，其中該第二表面具有向該***表面凹陷的一中心凹陷區(qū)域，該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層的一邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周圍；以及一金屬層，具有相對(duì)應(yīng)的一第三表面與一第四表面，該第三表面完全貼合于該第二表面。在一實(shí)施例中，為了彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該第二表面更包含具有向該***表面凹陷的一***環(huán)狀凹陷區(qū)域，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層在該***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域之間形成環(huán)狀的一***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域。在一特定實(shí)施例中，為了更彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該第二表面更具有向該***表面凹陷的第二環(huán)狀凹陷區(qū)域，該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層在該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域之間形成環(huán)狀的一第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域完全包含環(huán)狀的該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域完全包圍該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域，該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域完全包圍該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域。國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體晶圓 代工公司。天津半導(dǎo)體晶圓值得推薦

    所述有機(jī)胺為二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺，N，N-二甲基乙醇胺、N，N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一種或多種。所述有機(jī)羧酸選自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸鹽和檸檬酸中的一種或者多種。所述胍類為四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙酸、聚六亞甲基胍和對(duì)胍基苯甲酸。所述清洗液的pH值為2～5。實(shí)施例3一種用于半導(dǎo)體晶圓等離子蝕刻殘留物的清洗液，其是由如下重量份數(shù)的原料組成：有機(jī)溶劑48份、氟化物12份、氯化物11份、甲基丙烯酸甲酯6份、有機(jī)胺7份、氨基酸14份、胍類15份、苯并三氮唑5份、有機(jī)羧酸19份、硫脲23份和水64份。所述有機(jī)溶劑為選自亞砜、砜、咪唑烷酮、吡咯烷酮、咪唑啉酮、酰胺和醚中的一種或多種。所述氟化物為氟化氫、或氟化氫與堿形成的鹽。所述有機(jī)胺為二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺，N，N-二甲基乙醇胺、N，N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一種或多種。所述有機(jī)羧酸選自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸鹽和檸檬酸中的一種或者多種。所述胍類為四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙酸、聚六亞甲基胍和對(duì)胍基苯甲酸。天津半導(dǎo)體晶圓模具中硅半導(dǎo)體半導(dǎo)體晶圓。

    τ1是氣泡內(nèi)的溫度上升到高于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔，τ2是氣泡內(nèi)的溫度下降到遠(yuǎn)低于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔。由于可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩在清洗過(guò)程中具有一定的氣泡內(nèi)爆，因此，可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency，顆粒去除效率)，而對(duì)圖案結(jié)構(gòu)造成**小的損傷。臨界內(nèi)爆溫度是會(huì)導(dǎo)致***個(gè)氣泡內(nèi)爆的氣泡內(nèi)的**低溫度。為了進(jìn)一步提高pre，需要進(jìn)一步提高氣泡的溫度，因此需要更長(zhǎng)的時(shí)間τ1。通過(guò)縮短時(shí)間τ2來(lái)提高氣泡的溫度。超或兆聲波的頻率是控制內(nèi)爆強(qiáng)度的另一個(gè)參數(shù)?？煽氐姆欠€(wěn)態(tài)的氣穴振蕩是通過(guò)設(shè)置聲波電源在時(shí)間間隔小于τ1內(nèi)頻率為f1，設(shè)置聲波電源在時(shí)間間隔大于τ2內(nèi)頻率為f2，重復(fù)上述步驟直到晶圓被清洗干凈，其中，f2遠(yuǎn)大于f1，**好是f1的2倍或4倍。通常，頻率越高，內(nèi)爆的強(qiáng)度越低。τ1是氣泡內(nèi)的溫度上升到高于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔，τ2是氣泡內(nèi)的溫度下降到遠(yuǎn)低于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔?？煽氐姆欠€(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency，顆粒去除效率)，而對(duì)圖案結(jié)構(gòu)造成**小的損傷。臨界內(nèi)爆溫度是會(huì)導(dǎo)致***個(gè)氣泡內(nèi)爆的氣泡內(nèi)的**低溫度。為了進(jìn)一步提高pre，需要進(jìn)一步提高氣泡的溫度。

    本發(fā)明是關(guān)于一種半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備。背景技術(shù)：半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)涉及各種制造與測(cè)試過(guò)程，而其中一些過(guò)程涉及化學(xué)處理。在化學(xué)處理過(guò)程中，化學(xué)溶液接觸晶圓并與其發(fā)生反應(yīng)。在化學(xué)處理后，以去離子水(deionizedwater，diw)對(duì)晶圓進(jìn)行清洗處理，應(yīng)接著先干燥晶圓以避免晶圓損壞，并維持接下來(lái)的過(guò)程中的執(zhí)行精細(xì)度。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的一方面是在于提出一種可簡(jiǎn)化半導(dǎo)體晶圓干燥的過(guò)程并有效降低作業(yè)成本的半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備。依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式，一種半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備包含基座、殼體以及微波產(chǎn)生器?；慌渲贸沙休d半導(dǎo)體晶圓。殼體與基座形成被配置成容納半導(dǎo)體晶圓的腔室。殼體具有遠(yuǎn)離基座的排氣口。微波產(chǎn)生器設(shè)置于殼體上，并且被配置成對(duì)腔室發(fā)射微波。在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，微波產(chǎn)生器設(shè)置于殼體外。殼體具有多個(gè)穿孔，其被配置成供微波穿越。在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，微波產(chǎn)生器為多個(gè)，并且環(huán)繞腔室分布。在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備進(jìn)一步包含旋轉(zhuǎn)器，其連接基座，并且被配置成旋轉(zhuǎn)基座。在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，基座的轉(zhuǎn)速實(shí)質(zhì)上為10rpm。在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，殼體的材料包含金屬。天津12英寸半導(dǎo)體晶圓代工。

    集成了暗場(chǎng)照明成像，pl成像，共聚焦掃描成像和倏逝場(chǎng)照明移頻成像模式。圖2為一種實(shí)施實(shí)例俯視效果圖，輸入光源通過(guò)位于不同方位的波導(dǎo)端面耦合方式，為圓形波導(dǎo)提供倏逝場(chǎng)照明；圖3為一種實(shí)施實(shí)例俯視效果圖，輸入光通過(guò)環(huán)形波導(dǎo)的表面倏逝場(chǎng)耦合進(jìn)位于中心區(qū)域的圓形波導(dǎo)內(nèi)，提供倏逝場(chǎng)照明；圖4為暗場(chǎng)照明的示例圖，其中a為采用環(huán)形光纖束輸出提供暗場(chǎng)照明的示例圖，b為對(duì)應(yīng)暗場(chǎng)照明模塊的垂直截面圖；圖5為移頻照明成像原理示意圖。具體實(shí)施方式在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是，本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其他方式來(lái)實(shí)施，因此，本發(fā)明并不限于下面公開(kāi)的具體實(shí)施例的限制。本文中所涉及的方位詞“上”、“下”、“左”和“右”，是以對(duì)應(yīng)附圖為基準(zhǔn)而設(shè)定的，可以理解，上述方位詞的出現(xiàn)并不限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，所述實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號(hào)表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過(guò)參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定。半導(dǎo)體行業(yè)，晶圓制造和晶圓加工。天水半導(dǎo)體晶圓銷售廠家

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    在一實(shí)施例中，為了保護(hù)該金屬層，并且降低物理應(yīng)力與熱應(yīng)力的影響，該基板結(jié)構(gòu)更包含：一樹(shù)酯層，具有相對(duì)應(yīng)的一第五表面與一第六表面，其中該第五表面的形狀相應(yīng)于該第四表面。在一實(shí)施例中，為了讓基板結(jié)構(gòu)所承載的半導(dǎo)體組件的設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化，其中該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域依序包含***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度相同。在一特定實(shí)施例中，為了讓基板結(jié)構(gòu)所承載的半導(dǎo)體組件的設(shè)計(jì)更加簡(jiǎn)化，其中該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度相同。在一實(shí)施例中，為了讓基板結(jié)構(gòu)適應(yīng)所承載的半導(dǎo)體組件的不同設(shè)計(jì)，其中該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域依序包含***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度不同。在一特定實(shí)施例中，為了讓基板結(jié)構(gòu)適應(yīng)所承載的半導(dǎo)體組件的具有更大的設(shè)計(jì)彈性，其中該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度均不相同。在一實(shí)施例中，為了配合大多數(shù)矩形芯片的形狀，其中該中心凹陷區(qū)域是矩形。在一實(shí)施例中，為了配合大多數(shù)方形芯片的形狀。天津半導(dǎo)體晶圓值得推薦

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