動態(tài)光散射理論:粒子的擴散效應:懸浮的粒子并不是靜止不動的,相反,他們以布朗運動(Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運動,布朗運動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時間也呈無規(guī)則波動,這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導致的無規(guī)則波動。因為這些光互相干涉在一起,在檢測器中檢測到的光強值就會隨時間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進而產(chǎn)生有實際意義的波動,于是這些波動在凈光強值上反應出來。 DLS測量粒徑技術的關鍵物理概念是基于粒子的波動時間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一大小的...
動態(tài)光散射理論:粒子的擴散效應:懸浮的粒子并不是靜止不動的,相反,他們以布朗運動(Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運動,布朗運動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時間也呈無規(guī)則波動,這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導致的無規(guī)則波動。因為這些光互相干涉在一起,在檢測器中檢測到的光強值就會隨時間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進而產(chǎn)生有實際意義的波動,于是這些波動在凈光強值上反應出來。 DLS測量粒徑技術的關鍵物理概念是基于粒子的波動時間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一大...
產(chǎn)品優(yōu)勢:一、模塊化設計:Nicomp380納米激光粒度儀是全球率先在應用動態(tài)光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的先進粒度儀。隨著模塊的升級和增加,Nicomp380的功能體系越來越強大,可以用于各種復雜體系的檢測分析。 二、自動稀釋模塊(選配):自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差,且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度,這縮短了測試者寶貴時間,且無需培訓,測試結果重現(xiàn)性好,誤差率<1%。三、380/HPLD大功率激光器:美國PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中,考慮到在各種極端實驗測試條件中不同的需求,對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對極小的粒子...
小知識——光電倍增管(PMT)光電倍增管(Photomultiplier,簡稱PMT),是一種對紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進入的微弱光信號增強至原本的108倍,使光信號能被測量。小知識——光電二極管(APD)光電二極管是由玻璃封裝的真空裝置,其內(nèi)包含光電陰極(photocathode),幾個二次發(fā)射極(dynode)和一個陽極。入射光子撞擊光電陰極,產(chǎn)生光電效應,產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管,電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個二次電子,通常每個二次發(fā)射極的電位差在100到200伏特。二次電子流像瀑布一般,經(jīng)過一連串的二次發(fā)射極使...
產(chǎn)品優(yōu)勢:四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測器(選配)Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果)。APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度,如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團,他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發(fā)生器模塊,在非常短的時間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。五、380/MA多角度檢測器(選配)粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增...
小知識——光電倍增管(PMT)光電倍增管(Photomultiplier,簡稱PMT),是一種對紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進入的微弱光信號增強至原本的108倍,使光信號能被測量。小知識——光電二極管(APD)光電二極管是由玻璃封裝的真空裝置,其內(nèi)包含光電陰極(photocathode),幾個二次發(fā)射極(dynode)和一個陽極。入射光子撞擊光電陰極,產(chǎn)生光電效應,產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管,電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個二次電子,通常每個二次發(fā)射極的電位差在100到200伏特。二次電子流像瀑布一般,經(jīng)過一連串的二次發(fā)射極使...
Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理:粒度分布:動態(tài)光散射儀(Dynamic Light Scattering,DLS)/ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS);檢測范圍:粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV;Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering,DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機采用多普勒電泳光散...
小知識——光電倍增管(PMT)光電倍增管(Photomultiplier,簡稱PMT),是一種對紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進入的微弱光信號增強至原本的108倍,使光信號能被測量。小知識——光電二極管(APD)光電二極管是由玻璃封裝的真空裝置,其內(nèi)包含光電陰極(photocathode),幾個二次發(fā)射極(dynode)和一個陽極。入射光子撞擊光電陰極,產(chǎn)生光電效應,產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管,電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個二次電子,通常每個二次發(fā)射極的電位差在100到200伏特。二次電子流像瀑布一般,經(jīng)過一連串的二次發(fā)射極使得電子倍...
產(chǎn)品優(yōu)勢:一、模塊化設計:Nicomp380納米激光粒度儀是全球率先在應用動態(tài)光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的先進粒度儀。隨著模塊的升級和增加,Nicomp380的功能體系越來越強大,可以用于各種復雜體系的檢測分析。二、自動稀釋模塊(選配):自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差,且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度,這縮短了測試者寶貴時間,且無需培訓,測試結果重現(xiàn)性好,誤差率<1%。三、380/HPLD大功率激光器:美國PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中,考慮到在各種極端實驗測試條件中不同的需求,對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對極...
動態(tài)光散射理論:粒子的擴散效應:懸浮的粒子并不是靜止不動的,相反,他們以布朗運動(Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運動,布朗運動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時間也呈無規(guī)則波動,這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導致的無規(guī)則波動。因為這些光互相干涉在一起,在檢測器中檢測到的光強值就會隨時間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進而產(chǎn)生有實際意義的波動,于是這些波動在凈光強值上反應出來。 DLS測量粒徑技術的關鍵物理概念是基于粒子的波動時間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一...
動態(tài)光散射理論: 粒子的擴散效應:懸浮的粒子并不是靜止不動的,相反,他們以布朗運動(Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運動,布朗運動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時間也呈無規(guī)則波動,這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導致的無規(guī)則波動。因為這些光互相干涉在一起,在檢測器中檢測到的光強值就會隨時間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進而產(chǎn)生有實際意義的波動,于是這些波動在凈光強值上反應出來。 DLS測量粒徑技術的關鍵物理概念是基于粒子的波動時間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一大小的...
Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位:Zeta電位(Zetapotential)是指剪切面(ShearPlane)的電位,又叫電動電位或電動電勢(ζ-電位或ζ-電勢),是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標。2.STERN雙電子層:膠核表面擁有一層離子,稱為電位離子,電位離子通過靜電作用,把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍,被吸引的離子稱為反離子,越靠近膠核表面的地方反離子越密集,相反,越遠的地方反離子越稀疏,他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此,整個膠團是處于電中性狀態(tài),而膠核表面電勢是醉高的,根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA...
產(chǎn)品優(yōu)勢:四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測器(選配)Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果)。APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度,如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團,他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發(fā)生器模塊,在非常短的時間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。五、380/MA多角度檢測器(選配)粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增...
產(chǎn)品優(yōu)勢:一、模塊化設計:Nicomp380納米激光粒度儀是全球率先在應用動態(tài)光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的先進粒度儀。隨著模塊的升級和增加,Nicomp380的功能體系越來越強大,可以用于各種復雜體系的檢測分析。二、自動稀釋模塊(選配):自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差,且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度,這縮短了測試者寶貴時間,且無需培訓,測試結果重現(xiàn)性好,誤差率<1%。三、380/HPLD大功率激光器:美國PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中,考慮到在各種極端實驗測試條件中不同的需求,對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以...
Nicomp多峰分布概念:基線調(diào)整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個主要特點,Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布,這和實踐生產(chǎn)生活中不相符,因為現(xiàn)實中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論,提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結果,更可...
小知識——光電倍增管(PMT)光電倍增管(Photomultiplier,簡稱PMT),是一種對紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進入的微弱光信號增強至原本的108倍,使光信號能被測量。小知識——光電二極管(APD)光電二極管是由玻璃封裝的真空裝置,其內(nèi)包含光電陰極(photocathode),幾個二次發(fā)射極(dynode)和一個陽極。入射光子撞擊光電陰極,產(chǎn)生光電效應,產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管,電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個二次電子,通常每個二次發(fā)射極的電位差在100到200伏特。二次電子流像瀑布一般,經(jīng)過一連串的二次發(fā)射極...
技術優(yōu)勢1、PMT高靈敏度檢測器;2、可搭配不同功率光源;3、雙列直插式電極和樣品池,可反復使用成千上萬次;4、鈀電極;5、精確度高,接近樣品真實值;6、復合型算法:高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換;相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換;7、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);8、結果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);9、符合USP,CP等個多藥典要求;10、無需校準;11、模塊化設計便于維護和升級;(1)可自動稀釋模塊(選配);(2)搭配多角度檢測器(選配);(3)自動進樣系統(tǒng)(選配);通過調(diào)節(jié)角度進行檢測,改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。廣東如何zet...
Nicomp多峰分布概念:基線調(diào)整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個主要特點,Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布,這和實踐生產(chǎn)生活中不相符,因為現(xiàn)實中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論,提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結果,更可...
技術優(yōu)勢1、PMT高靈敏度檢測器;2、可搭配不同功率光源;3、雙列直插式電極和樣品池,可反復使用成千上萬次;4、鈀電極;5、精確度高,接近樣品真實值;6、復合型算法:高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換;相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換;7、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);8、結果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);9、符合USP,CP等個多藥典要求;10、無需校準;11、模塊化設計便于維護和升級;(1)可自動稀釋模塊(選配);(2)搭配多角度檢測器(選配);(3)自動進樣系統(tǒng)(選配);粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測范圍為+/- 5...
動態(tài)光散射理論:粒子的擴散效應:懸浮的粒子并不是靜止不動的,相反,他們以布朗運動(Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運動,布朗運動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時間也呈無規(guī)則波動,這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導致的無規(guī)則波動。因為這些光互相干涉在一起,在檢測器中檢測到的光強值就會隨時間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進而產(chǎn)生有實際意義的波動,于是這些波動在凈光強值上反應出來。 DLS測量粒徑技術的關鍵物理概念是基于粒子的波動時間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一...
產(chǎn)品優(yōu)勢:四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測器(選配)Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果)。APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度,如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團,他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發(fā)生器模塊,在非常短的時間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。 五、380/MA多角度檢測器(選配)粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來...
動態(tài)光散射理論:粒子的擴散效應:懸浮的粒子并不是靜止不動的,相反,他們以布朗運動(Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運動,布朗運動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時間也呈無規(guī)則波動,這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導致的無規(guī)則波動。因為這些光互相干涉在一起,在檢測器中檢測到的光強值就會隨時間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進而產(chǎn)生有實際意義的波動,于是這些波動在凈光強值上反應出來。 DLS測量粒徑技術的關鍵物理概念是基于粒子的波動時間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一...
Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位:Zeta電位(Zetapotential)是指剪切面(ShearPlane)的電位,又叫電動電位或電動電勢(ζ-電位或ζ-電勢),是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標。2.STERN雙電子層:膠核表面擁有一層離子,稱為電位離子,電位離子通過靜電作用,把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍,被吸引的離子稱為反離子,越靠近膠核表面的地方反離子越密集,相反,越遠的地方反離子越稀疏,他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此,整個膠團是處于電中性狀態(tài),而膠核表面電勢是醉高的,根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電...
動態(tài)光散射理論:粒子的擴散效應:懸浮的粒子并不是靜止不動的,相反,他們以布朗運動(Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運動,布朗運動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時間也呈無規(guī)則波動,這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導致的無規(guī)則波動。因為這些光互相干涉在一起,在檢測器中檢測到的光強值就會隨時間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進而產(chǎn)生有實際意義的波動,于是這些波動在凈光強值上反應出來。 DLS測量粒徑技術的關鍵物理概念是基于粒子的波動時間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一...
Nicomp多峰分布概念:基線調(diào)整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個主要特點,Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布,這和實踐生產(chǎn)生活中不相符,因為現(xiàn)實中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論,提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結果,更可...
Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位:Zeta電位(Zetapotential)是指剪切面(ShearPlane)的電位,又叫電動電位或電動電勢(ζ-電位或ζ-電勢),是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標。2.STERN雙電子層:膠核表面擁有一層離子,稱為電位離子,電位離子通過靜電作用,把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍,被吸引的離子稱為反離子,越靠近膠核表面的地方反離子越密集,相反,越遠的地方反離子越稀疏,他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此,整個膠團是處于電中性狀態(tài),而膠核表面電勢是醉高的,根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電...
Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位:Zeta電位(Zetapotential)是指剪切面(ShearPlane)的電位,又叫電動電位或電動電勢(ζ-電位或ζ-電勢),是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標。2.STERN雙電子層:膠核表面擁有一層離子,稱為電位離子,電位離子通過靜電作用,把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍,被吸引的離子稱為反離子,越靠近膠核表面的地方反離子越密集,相反,越遠的地方反離子越稀疏,他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此,整個膠團是處于電中性狀態(tài),而膠核表面電勢是醉高的,根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電位:目...
Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理:粒度分布:動態(tài)光散射儀(Dynamic Light Scattering,DLS)/ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS);檢測范圍:粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV;Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering,DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機采用多普勒電...
Nicomp多峰分布概念:基線調(diào)整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個主要特點,Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布,這和實踐生產(chǎn)生活中不相符,因為現(xiàn)實中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論,提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結果,更...
產(chǎn)品優(yōu)勢:四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測器(選配)Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果)。APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度,如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團,他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發(fā)生器模塊,在非常短的時間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。五、380/MA多角度檢測器(選配)粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測...