值得一提的是，近十余年來，外商尤其是臺商將設備較關鍵較昂貴的測試主機（從數(shù)萬到數(shù)十萬元）通過較低價（數(shù)千元）報關進入中國大陸內地，然后在國內加上機械大外殼，即以翻了數(shù)倍到數(shù)十倍的價格在市場上銷售，這樣的作法偷逃了數(shù)以億計的關稅。而國內設備廠商通過正常報關進口零配件生產(chǎn)的設備，其成本甚至會一度遠高于外資廠。所以，境外品牌的這種違法走入使得其測試設備在成本上并不處于多大劣勢，甚至有時還處于優(yōu)勢。這對誠實的國內測試設備廠商來說無疑是極不公平的。令人欣慰的是，這里，國人崇尚洋貨好面子歧視國貨的心態(tài)正有所扭轉，外資企業(yè)也已改變只購國外設備的作法，而愿意更多的購買性價比更高的國內設備。PCBA功能測試系統(tǒng)用于驗證PCBA板的功能。上海電池測試系統(tǒng)方案

應用：家電產(chǎn)品：空調、洗衣機、冰箱、電磁爐、微波爐、電視機、DVD、音響等。電源產(chǎn)品；安防產(chǎn)品；IT產(chǎn)品：電腦、PDA、顯示器；通訊電子：手機、電話、交換機、程控設備；汽車電子：儀表盤、音響。電路板測試系統(tǒng)（PTS，Pcb Test System）是指在計算機的控制下，能自動完成激勵、測量、數(shù)據(jù)處理、顯示或輸出測試結果的一類系統(tǒng)的統(tǒng)稱。電路板測試用于完成對被測Pcb的性能測試，根據(jù)對測試結果的分析、對故障的診斷與定位也可擴展成為診斷系統(tǒng)。電路板測試測試系統(tǒng)具有高速度、高精度、多功能、多參數(shù)和寬測量范圍等諸多特點。而計算機技術、微電子技術、電子測量技術是建立電路板測試的三大基石。湖州自動測試系統(tǒng)方法可靠性試驗系統(tǒng)用于驗證產(chǎn)品在不同環(huán)境下的可靠性。

功能系統(tǒng)測試原理：FST是function system test的簡稱，功能系統(tǒng)測試可以測試一個PCBA的單板系統(tǒng)能否實現(xiàn)設計目標，它將線路板上的被測單元作為一個功能體，對其提供輸入信號，按照功能體的設計要求檢測輸出信號。功能系統(tǒng)測試中的激勵信號源可以使用一些通用的儀器來實現(xiàn)，如任意波形發(fā)生器，任意函數(shù)發(fā)生器，邏輯信號發(fā)生器等，也可以使用自己設計的硬件系統(tǒng)來產(chǎn)生激勵信號，采用前者相對成本較高。功能系統(tǒng)測試中的輸出信號的檢測可以使用一些通用的儀器來實現(xiàn)，如示波器，頻譜分析儀等，也可以使用定制的數(shù)據(jù)采集和分析模塊來實現(xiàn)。輸出信號的分析和測試結果的保存往往要用計算機來實現(xiàn)，所以就引出了計算機和測試系統(tǒng)硬件的數(shù)據(jù)傳輸和控制的問題。計算機和測試系統(tǒng)常用的通信方式有GPIB總線、PCI總線、RS232串口、USB等，通信方式的選擇需要根據(jù)測試系統(tǒng)的硬件選擇和測試對于數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俣刃枨鬀Q定。

操作簡便:由于測量過程是程序操作，測試人員只需接入被測件和按電鍵，無需測試員具備高深的理論和熟練的測試技巧。測試設計主要是編制測試程序結論在智能測試系統(tǒng)中，為要完成各式各樣的測試任務，要求被選作系統(tǒng)部件的各種設備能做到標準化和規(guī)格化。智能測試系統(tǒng)的標準化反映在兩個方面:其一是系統(tǒng)內傳遞的消息類型及表達方式應該規(guī)范化;其二是系統(tǒng)部件的接口部件必須標準化。這些標準都要已正式文本的形式加以確認，使之成為國際化的專業(yè)標注。功能測試系統(tǒng)有利于產(chǎn)品上市前的全方面驗收。

儀器儀表及其發(fā)展歷程，頭一代儀器儀表是指針式的，如實驗室中至今還在使用的指針式萬用表、電壓表、電流表、功率表等。這些儀表是基于電磁測量原理并用指針來指示側得值。第二代儀器儀表是數(shù)字式的，這類儀器儀表適應于快速響應和高精度的要求目前這類儀器儀表已很普及。第三代儀器儀表:智能化儀器儀表。20世紀70年代初期，隨著大規(guī)模集成電路制造技術的發(fā)展，人們發(fā)明了微處理器芯片。3年之后，美國便開始出售安裝有微型計算機的分析儀器，例如IiP5830A色譜儀。從此儀器儀表的設計中幾乎沒有不考慮采用微型計算機的。在線測試：實時監(jiān)測設備運行狀態(tài)，提前發(fā)現(xiàn)潛在問題，降低故障風險。常州通用自動測試系統(tǒng)價格

各種功能測試系統(tǒng)可滿足不同行業(yè)的功能驗證需求。上海電池測試系統(tǒng)方案

Boundary-Scan邊界掃描技術ICT測試儀要求每一個電路節(jié)點至少有一個測試點。但隨著器件集成度增高，功能越來越強，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個節(jié)點放一根探針變得很困難，為增加測試點，使制造費用增高；同時為開發(fā)一個功能強大器件的測試庫變得困難，開發(fā)周期延長。為此，聯(lián)合測試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測試標準。 IEEE1149.1定義了一個掃描器件的幾個重要特性。首先定義了組成測試訪問端口（TAP）的四（五〕個管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。上海電池測試系統(tǒng)方案

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